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Quartus双口RAM仿真与测试一

上节内容讲解了双口RAM的生成步骤以及各选项的细节讲解,本节着重介绍双口RAM的测试及仿真。由于双口RAM作为FPGA片上RAM应用极其广泛,使用相对灵活,是FPGA学习中应重点掌握的内容。而且每个使用方案对应的时序也不尽相同,只有多练、多操作、多观察和思考才能掌握各种使用技巧。按照上节内容生成双口RAM,例化并按照如下步骤进行仿真与测试。

1.新建verilog文件 dpram.v(模块名dpram,与工程的顶层实体名一致)

2.例化新生成的双口RAM并例化

关于双端口RAM IP核的生成,参考文章Quartus 双口RAM例化详解。

将a,b端口重新整理,代码如下:


 

新生成的工程中双口RAM的示意图如图1

 

图1

3.双口RAM测试内容

为了能比较容易观察写入和读出数据,本测试设置写入的数据为16-bit宽度,为了观察a,b端口数据的输入与输出以及数据的综合应用,设计a,b端口对数据包的操作如下:

  • 同步时钟下,输出端口非寄存输出的情况下,观察a端口写入,a端口读出延时。a端口写入,b端口读出的延时。注:读出时选择读出旧数据(old data),如图2,
  • 在状态1(st==1)时,在地址为1的单元写入16’h55aa;

图2

测试程序如下:


 

仿真波形如图3:

图3

  • 波形分析:从图3可以看出,在状态机st为1时对a端口进行赋值,在状态机st=2时,地址address_a,数据data_a,写使能wren_a都得到相应的数据,但双口RAM内部对地址address_a,数据data_a,写使能wren_a都进行了锁存,因此写入到RAM中将会再延迟一个时钟,所以真正将数据写入到RAM中是在状态机st=2结束时的时钟上升沿时刻,最终将数据写到RAM并且数据稳定是在状态机st=3时,但是由于在生成双口RAM时选择了读取旧数据(old data),因此在状态机st=3并没有及时读出,而实际读出数据是在状态机st=4。
  • 修改a端口和b端口的读出数据都为新数据( new data),如图4,再观察仿真结果。

图4

测试条件不变,仿真波形如图5

图5

从图5的波形可以看出,由于在读出端口设置了读新数据,因此a端口读出的值比图3提前了一个时钟,但b端口输出并没有因为改成新数据提前一个时钟。注意在输入、输出为异步时钟时,读取新数据并不稳定,在使用新数据读取时一定要注意异步时钟的亚稳态效应。

  • 同步时钟,a端口。b端口输出端口寄存的情况下,观察a端口写入,a端口读出延时。a端口写入,b端口读出的延时,此时采用读取新数据(new data)。如图6,

图6

测试条件不变,仿真结果如图7,

图7

从图7中可以看出,尽管读取新数据,但由于数据的数据采用寄存器寄存,因此又延时了一个时钟,a端口读取数据又推迟到了状态4。b端口读取数据推迟到状态5。

图8,是在其它测试条件不变的情况下,读取端更改为a端口读取旧数据,b端口读取新数据,观察输入、输出

图8

仿真数据如图9,

图9

从图9可以看出,读取数据是否是新数据还是旧数据只影响a端口的延迟,而b端口读取新、旧数据的延迟一致,这一点在使用双口RAM时一定要注意。

 

对应视频:

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